Новая разработка компании Beta LaserMike

Американский поставщик высокоточных контрольно-измерительных приборов, компания Beta LaserMike, впервые представила свою новую измерительную систему LayScan и трёхосный детектор утолщений и сужений LN Detector представителям международного кабельного сообщества на выставке WIRE 2012.

Новая измерительная система LayScan (заявка на патент подана) предназначена для очень точного и стабильного измерения длины шага скрутки пар при изготовлении кабелей телекоммуникационного назначения. Основанная на технологии оптического бесконтактного метода измерения, эта система выполняет измерения шага скрутки в режиме реального времени, при высокой скорости технологической линии, с высокой степенью точности – до 0,0254 мм (0,001 дюйма). Возможности системы LayScan позволяют точно определять отклонения в длине шага скрутки в каждом повиве. Систематические изменения шага скрутки, которые обычно имеют место во время операций скрутки в пары и формирования кабеля, могут быть легко определены и измерены. Система эффективно производит сбор и обработку полученных данных и выдаёт отчёты результатов измерения.

Ещё один дебют компании Beta LaserMike – новый трёхосный детектор LN (Lump & Neck Detector). Эта прогрессивная компактная система обеспечивает более точное определение кратковременных дефектов (утолщений и сужений в диаметре кабельного изделия), чем двухосные системы. Трёхосная сканирующая система позволяет получить 360-градусный охват окружности кабельного изделия и мгновенно обнаружить любые изменения поверхностного профиля. При помощи детектора LN можно выполнять измерения на кабельных изделиях диаметром до 15 мм (0,59 дюймов) при скорости технологической линии до 3 000 м/мин. В эту контрольно-измерительную систему можно вводить разнообразные входные параметры, включая шифратор длины, тахометр, запуск/останов линии и обнуление дефектов, а также этот детектор может быть подключён к ПК или контроллеру с использованием Ethernet IP, Profibus и Profinet. Функциональные возможности этой системы позволяют получать подробную информацию о критических параметрах технологического процесса, в том числе данные о расположении, длине, высоте, количестве дефектов.